李鸣翔会认真沉淀

李鸣翔的博客

本文是笔者复习半导体材料及IC工艺原理(双语)课程时的复习笔记,参考教材是半导体制造技术导论:第2版 (萧宏),授课老师是马瑶老师。

1. 为什么有工艺漂移?

在工艺还未成熟或新引进了一组新的仪器设备时,整体的成品率不会很高。但随着生产的进行,降低成品率的因素被发现并通过及时地纠正,成品率会不断上升然后达到稳定。

图1 成品率与时间的关系

2. 为什么晶目前主流的晶圆尺寸均被限制在了12 inchs?

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四川大学期中考试试题(开卷) (2024 - 2025 学年第 1 学期) A 卷

课程名称:半导体物理 任课教师:杨治美

2024 年 11 月 25 日

1 题目

  1. ${L}_{n}(E) = ( )$ , ${L}_{D} =( )$ 。

  2. 半导体中过剩电子浓度为 ${\Delta n} = {10}^{15}\mathrm{cm}^{-3}$ ,过剩载流子的寿命为 ${\tau }_{n0} = {10}^{-6}s $ 。在 $ t = 0 $ 时, 产生过剩载流子的外部作用停止,因此 $ t > 0 $ 时半导体恢复到平衡状态, $ t = {4\mu s} $ 时的过剩载流子的复合率 ( )。

  3. 假设两块半导体材料 $\mathrm{A}$ 和 $\mathrm{B}$ 除了禁带宽度不同,其它参数完全相同。 $\mathrm{A}$ 的禁带宽度是 $ 1.0eV $ , B 的禁带宽度是 $1.2eV$,${300}\mathrm{K}$ 时两种材料的 ${n}_{i}$ 的比值是( )。

  4. 特定半导体内存在三种散射机制,只存在一种散射机制时的迁移率为 $\mu_{1}=2000cm^{2}/(V\cdot s)$ ,只存在第二种散射机制时的迁移率为 $\mu_{2}=1500cm^{2}/(V\cdot s)$ ,只存在第三种散射机制时的迁移率 $\mu_{1}=2000cm^{2}/(V\cdot s)$ ,只存在二种散射机制时的迁移率为 $\mu_{3}=500cm^{2}/(V\cdot s)$,总的迁移率为( $\quad$ )

  5. 最有利效的复合中心能级位置在 ( ) 附近;最有利陷阱作用的能级位置在 ( ) 附近, 常见的是 ( ) 陷阱。

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数字逻辑与系统设计设计报告

项目内容

题目:8位乘法器\
实现的功能:

  • 输入为两个8位有符号数或无符号数,输出16位相乘结果
  • 采用Booth算法对乘法转化为部分和求和
  • 采用Wallace算法减少部分和求和时所使用的全加器数量

编译器及测试仿真环境

win11系统,EDA环境为Quartus,EDA软件版本为18.0,验证板卡为DE10Lite,波形仿真软件为Modelsim,软件版本为SE-64 2020.4

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情况说明

参考教材半导体制造技术导论(第二版)——萧宏,课程半导体材料及IC工艺原理

该总结是课程期末作业的一部分,边复习边总结。

Chapter1-5

1. 为什么目前市场上主流的最大晶圆的大小均为12英寸,为什么没有13、14英寸的wafer投入生产?

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2024年度总结

该文为meishao的2024年年度总结,成文于2024年12月31日,

祝福

正值2024年跨年之际,预祝各位2025年万事如意,心想事成,阖家幸福,平平安安!

2024年回顾

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模拟集成电路期末复盘

ppt中的一些英文单词(12分)

简答题

二、对于半导体物理、半导体器件、半导体工艺、模拟集成电路四门课程之间的思考(8分)

三(每个6分,共48分)

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版本更新信息如下:

  • V0.1 2024.11.14

博客正式上线,基于GitHubpages搭建

  • V0.2 2024.12.15

博客的评论系统由gittalk切换为twikoo,并且部署在Vercel平台实现CDN加速。

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什么是势垒呢?

pn结

在pn结中记n区、p区的导带 $E_{C}$ 之差为势垒。在形成pn结之前,n区的费米能级 $E_{F}$ 靠近导带 $E_{C}$ ;p区的费米能级靠近价带 $E_{V}$ ,形成pn结后形成统一的费米能级,在能带图中即体现为一条水平线。

  • Q1:为什么pn结会形成统一的费米能级

  • A1:从能带角度理解:首先能级越低,该能级上的电子能量越高,该能级上的空穴能量越低。故形成pn结时电子从 $E_{F}$ 高的n区流向 $E_{F}$ 低的p区,相应的空穴从 $E_{F}$ 低的p区流向 $E_{F}$ 高的n区,也可以说n区电子占据导带的概率降低;同时考虑费米能级是标志载流子分布的能级,或者从下式分析:

故 $E_{Fn}$ 不断下移, $E_{Fp}$ 不断上移,直至 $E_{Fn}=E_{Fp}$ 。同时考虑到费米能级的变化是连续的,故最终会形成统一的费米能级。

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ADC参数总结

  • FOM:energy-efficiency figure of merit , 能效值 , 单位: $nJ/step$

ENOB和resolution的对比

简并or退化?本征or掺杂?

问题来源于在看半导体物理教材时的疑惑,经查找资料后清楚了些,故作此纪录与诸君分享。

degeneration:退化(在物理学中常译为简并)

故 a degenerate semiconductor指的是重掺杂的半导体,杂质能级形成了 impurity band,把带隙给填满了,因此材料的电导率等性质就更像金属了,即由半导体退化成金属了,故$\mathscr{MeiShao}$认为,将degenerate semiconductor 翻译为退化半导体更容易理解。

其中费米狄拉克分布函数为:

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hd

本文是笔者复习半导体材料及IC工艺原理(双语)课程时的复习笔记,参考教材是半导体制造技术导论:第2版 (萧宏),授课老师是马瑶老师。

1. 为什么有工艺漂移?

在工艺还未成熟或新引进了一组新的仪器设备时,整体的成品率不会很高。但随着生产的进行,降低成品率的因素被发现并通过及时地纠正,成品率会不断上升然后达到稳定。

图1 成品率与时间的关系

2. 为什么晶目前主流的晶圆尺寸均被限制在了12 inchs?

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四川大学期中考试试题(开卷) (2024 - 2025 学年第 1 学期) A 卷

课程名称:半导体物理 任课教师:杨治美

2024 年 11 月 25 日

1 题目

  1. ${L}_{n}(E) = ( )$ , ${L}_{D} =( )$ 。

  2. 半导体中过剩电子浓度为 ${\Delta n} = {10}^{15}\mathrm{cm}^{-3}$ ,过剩载流子的寿命为 ${\tau }_{n0} = {10}^{-6}s $ 。在 $ t = 0 $ 时, 产生过剩载流子的外部作用停止,因此 $ t > 0 $ 时半导体恢复到平衡状态, $ t = {4\mu s} $ 时的过剩载流子的复合率 ( )。

  3. 假设两块半导体材料 $\mathrm{A}$ 和 $\mathrm{B}$ 除了禁带宽度不同,其它参数完全相同。 $\mathrm{A}$ 的禁带宽度是 $ 1.0eV $ , B 的禁带宽度是 $1.2eV$,${300}\mathrm{K}$ 时两种材料的 ${n}_{i}$ 的比值是( )。

  4. 特定半导体内存在三种散射机制,只存在一种散射机制时的迁移率为 $\mu_{1}=2000cm^{2}/(V\cdot s)$ ,只存在第二种散射机制时的迁移率为 $\mu_{2}=1500cm^{2}/(V\cdot s)$ ,只存在第三种散射机制时的迁移率 $\mu_{1}=2000cm^{2}/(V\cdot s)$ ,只存在二种散射机制时的迁移率为 $\mu_{3}=500cm^{2}/(V\cdot s)$,总的迁移率为( $\quad$ )

  5. 最有利效的复合中心能级位置在 ( ) 附近;最有利陷阱作用的能级位置在 ( ) 附近, 常见的是 ( ) 陷阱。

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数字逻辑与系统设计设计报告

项目内容

题目:8位乘法器\
实现的功能:

  • 输入为两个8位有符号数或无符号数,输出16位相乘结果
  • 采用Booth算法对乘法转化为部分和求和
  • 采用Wallace算法减少部分和求和时所使用的全加器数量

编译器及测试仿真环境

win11系统,EDA环境为Quartus,EDA软件版本为18.0,验证板卡为DE10Lite,波形仿真软件为Modelsim,软件版本为SE-64 2020.4

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情况说明

参考教材半导体制造技术导论(第二版)——萧宏,课程半导体材料及IC工艺原理

该总结是课程期末作业的一部分,边复习边总结。

Chapter1-5

1. 为什么目前市场上主流的最大晶圆的大小均为12英寸,为什么没有13、14英寸的wafer投入生产?

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2024年度总结

该文为meishao的2024年年度总结,成文于2024年12月31日,

祝福

正值2024年跨年之际,预祝各位2025年万事如意,心想事成,阖家幸福,平平安安!

2024年回顾

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模拟集成电路期末复盘

ppt中的一些英文单词(12分)

简答题

二、对于半导体物理、半导体器件、半导体工艺、模拟集成电路四门课程之间的思考(8分)

三(每个6分,共48分)

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版本更新信息如下:

  • V0.1 2024.11.14

博客正式上线,基于GitHubpages搭建

  • V0.2 2024.12.15

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什么是势垒呢?

pn结

在pn结中记n区、p区的导带 $E_{C}$ 之差为势垒。在形成pn结之前,n区的费米能级 $E_{F}$ 靠近导带 $E_{C}$ ;p区的费米能级靠近价带 $E_{V}$ ,形成pn结后形成统一的费米能级,在能带图中即体现为一条水平线。

  • Q1:为什么pn结会形成统一的费米能级

  • A1:从能带角度理解:首先能级越低,该能级上的电子能量越高,该能级上的空穴能量越低。故形成pn结时电子从 $E_{F}$ 高的n区流向 $E_{F}$ 低的p区,相应的空穴从 $E_{F}$ 低的p区流向 $E_{F}$ 高的n区,也可以说n区电子占据导带的概率降低;同时考虑费米能级是标志载流子分布的能级,或者从下式分析:

故 $E_{Fn}$ 不断下移, $E_{Fp}$ 不断上移,直至 $E_{Fn}=E_{Fp}$ 。同时考虑到费米能级的变化是连续的,故最终会形成统一的费米能级。

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ADC参数总结

  • FOM:energy-efficiency figure of merit , 能效值 , 单位: $nJ/step$

ENOB和resolution的对比

简并or退化?本征or掺杂?

问题来源于在看半导体物理教材时的疑惑,经查找资料后清楚了些,故作此纪录与诸君分享。

degeneration:退化(在物理学中常译为简并)

故 a degenerate semiconductor指的是重掺杂的半导体,杂质能级形成了 impurity band,把带隙给填满了,因此材料的电导率等性质就更像金属了,即由半导体退化成金属了,故$\mathscr{MeiShao}$认为,将degenerate semiconductor 翻译为退化半导体更容易理解。

其中费米狄拉克分布函数为:

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